Mıknatıssal Saçtırma Yöntemi ile Üretilen Vanadyum Oksit İnce Filmlerin Yapısal Karakterizasyonu Hürriyet Yüce*(1), Sena Gülen(1), Ayten Cantaş(1), Gülnur Aygün(1), Lütfi Özyüzer(1) (1) İzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü, Fizik Bölümü, Urla, 35430, İzmir, Türkiye * hurriyetyuce@iyte.edu.tr ÖZET Vanadyum oksit (VO2) oda sıcaklığından itibaren ısıtıldığında yalıtkan fazdan metalik faza geçiş (MIT) özelliği göstermektedir. VO2’nin belirtilen MIT geçişi ~68 °C’de gerçekleşmektedir [1]. MIT geçişi ile direnci 104 mertebesinde azalmakta ve optik özellikleri de metalik faza uygun şekilde değişmektedir [2]. Termal olarak gerçekleşen bu geçiş, termokromik akıllı camlarda kullanılmasının yanı sıra optik sensörlerde ve alan etkili transistör (FET) yapılarak elektronik aygıtlarda da kullanılmaktadır [3,4]. Düşük sıcaklık VO2 fazının kızılötesi geçirgenliği, oksijen akış miktarının artmasıyla artış gösterirken soğurma oranı azalmaktadır [5]. Buna karşılık yüksek sıcaklık VO2 fazının kızılötesi geçirgenliği, oksitleme esnasında sistemden geçirilen oksijen akış oranına bağlı olmaksızın düşüktür. Bu özellik sebebiyle VO2 termokromik camlarda yüksek kullanım alanına sahiptir. Bu çalışmada, cam üzerine VO2 ince filmler rf reaktif mıknatıssal saçtırma tekniği kullanılarak büyütülmüştür. VO2’nin kristal yapısının daha iyi olması için saçtırma süresince cam sıcaklığı 450 °C’de tutulmuştur. Üretilen filmlerin faz yapısını anlamak için X ışınları kırınımı (XRD), atomlar arası titreşim modlarını belirlemek için Raman mikroskobu ve kimyasal durumlarıyla birlikte atomik konsantrasyonu tespit etmek için X-ray fotoelektron spektroskopi (XPS) kullanılmıştır. Bununla birlikte VO2’nin elektriksel özellikleri incelenmiş olup ticari kullanım alanları tartışılacaktır. Bu çalışma 113F349 nolu TÜBİTAK projesi tarafından desteklenmektedir. [1] J.-P. Fortier et al, Solar Energy Materials & Solar Cells, 125, 291-296 (2014) [2] J. Wu et al, Nano Letters, 6, 10 (2006) [3] M.Tangirala et al, ECS Journal of Solid State Science and Technology, 3, N89-N94 (2014) [4] D. Ruzmetov et al, Journal of Applied Physics, 107, 114516 (2010) [5] M. Jiang et al, Thin Solid Films, 562, 314-318 (2014)
© Copyright 2024 Paperzz