散乱ならびに外観測定向けImaging Sphere 「IS‐SA™」 アプリケーション ・ ・ ・ ・ ・ ・ 包括的なBRDF、BTDFならびにTIS測定に適した 高速かつフレキシブルなシステム BRDF(双方向反射分布関数)測定 BTBF(双方向透過分布関数)測定 散乱に基づく、金属、プラスチック、紙、 繊維などの材料の特性解析および分類 IS-SA™は、フィルム、金属、プラスチック、紙、繊維などほぼ全ての材料、および 散乱に基づく、洗浄剤、研磨剤、塗料、 コーティングなどの表面処理の特性解析 および分類 な散乱分布関数の測定を提供します。 品質管理サンプリング 方のアプリケーションで使用できるよう設計されています。 洗浄剤、研磨剤、コーティングや塗料といった表面加工のための高速かつ包括的 また、材料の特性解析および品質評価、コンピュータ モデリングやレンダリングに 向けたBSDF測定のライブラリ生成といった、研究開発と製造における品質管理両 光学設計ならびにレンダリングのアプリ ケーションに向けた、正確かつ完全な 外観モデルの生成 IS-SA™は、今までにない光学コンフィグレーションを活用してBSDF測定にかかる 時間を劇的に短縮し、一度に2πステラジアン(半球全体)の散乱光を測定します。 IS-SA™には、フレキシブルな測定設定と直感的な操作をもたらす高機能なRadiant Zemax社製IS-SA™制御解析ソフトウェアが付属しており、アイソメトリック プロット、 利点 ・ 断面グラフ、レーダープロット、ビットマップやカラーグラフといった広範囲のデータ 多くの材質のBSDFおよびTIS測定を数秒 で完了 解析機能ならびにディスプレイ機能もご利用可能です。 ・ 関連する幅広い測定アプリケーションに とって費用効率の高いソリューション び材料サンプルを自動で動かし回転させるゴニオメトリック ポジショニング システム ・ 任意の材料のBSDFライブラリを構築する 最速かつ最も簡単な方法 オプションには、その他BTDF(透過)測定用のTransmission Armアタッチメントおよ があります。 IS-SA™ユーザーは、ソフトウェアのオプションによりディスプレイの視野角の性能 測定や、小さな光源の配光測定を行うことが可能です。ソフトウェアを追加すること で、イメージング色彩輝度計IS-SA™ ProMetric®を他のアプリケーション用に単独 で使用することができます。 株式会社プロリンクス 〒101-0035 東京都千代田区神田紺屋町17 SIA神田スクエア3階 TEL 03-5256-2052 FAX 03-5256-2272 Email : radiant@prolinx.co.jp 担当部署:営業第一課 散乱ならびに外観測定向けImaging Sphere 「IS‐SA™」 主な特徴 • 輝度および色度測定能力 • 入射光の自動制御 • • • 光源やサンプルの幅広いオプション構成 使いやすい解析制御ソフトウェア 光学設計ツールへのデータエクスポートが可能 仕様* 光学仕様 CCD タイプ CCD ビット値 CCD解像度 視野 色測定 減光フィルター 標準照明角度 光源 感度 システム精度 最短測定時間 フルフレーム, 電子冷却付CCD 16-bit (65,536:1) ダイナミックレンジ 512x512 または 1024x1024 ピクセル CCD オプション 約 2π ステラジアン CIE 1931 適合 XYZ フィルター(輝度のみまたはスペクトルオプションも可) ND 0, 1, 2 標準 連続 80° メタルハライドランプまたはハロゲンランプ 反射率 5%以下 BRDF: ±5% TIR: ±5% 単色(輝度): 1 sec 色度 : 5 sec 機械仕様 寸法(WxHxD) 設置方向 角度分解能 重量 構造 最大サンプル寸法 照明領域 88cm x 66cm x 110cm 垂直、上向き、下向き 0.5° 120 kg イメージング積分球、イメージング色彩輝度計 無制限 (反射散乱測定時) 10 mm または 20 mm 測定制御ソフトウェア仕様 測定性能: IS 1.x ソフトウェア BRDF, CCBRDF, BTDF, CCBTDF TIR (積分全反射) TIS (積分全散乱)、ゲイン 相対色: CCT; CIE x,y; u’,v’; E 測定セットアップ、撮像制御 グレースケール表示と疑似カラー表示 散乱と相対色の横断面 散乱と相対色の3次元面プロット 散乱と相対色のアイソメトリック プロット 多重キャプチャのグラフ比較と画像比較 光学設計プログラムとレンダリングツールへBSDFデータのエクスポート TIS、TIRと色のレポート プロセス測定 (回転、加算、引算、閾値等) オプション BTDF 測定用のTransmission Arm 試料の自動ポジショニング&回転台(X,Y,Phi) 自動反射光除去機能 校正用試料 アパチャーマスク校正装置 自動スペクトル調整照明用モノクロメーター 必要システム仕様 • 2.0 GHz 及び高速プロセッサ • 1GB 若しくはそれ以上の RAM • Windows® 7, Vista , XP • USB 2.0 インターフェイス *仕様は予告なく変更されることがあります。 株式会社プロリンクス 〒101-0035 東京都千代田区神田紺屋町17 SIA神田スクエア3階 TEL 03-5256-2052 FAX 03-5256-2272 Email : radiant@prolinx.co.jp 担当部署:営業第一課
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