2008.09 TM STILDirector のご紹介資料 東芝マイクロエレクトロニクス テスト環境技術開発部 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 1 2008.09 目次 1．STILとは 標準化状況、STIL利用のメリット、 STILベースのテスト開発環境 2．STILDirectorTMの構成、機能 3．STILDirectorTMの利用環境 付録：東芝におけるSTILへの移行事例 STILDirectorTM（補足説明） STILBuilderTMのご紹介 STILPlannerTM 及びテスタI/Fのご紹介 STIL習得システムのご紹介（STIL eラーニング） 故障解析インターフェースのご紹介 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 2 2008.09 1. STILとは Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 3 2008.09 STILとは? Standard Test Interface Language 1999年にIEEE でStd 1450.0 として標準化されたテストデータ の記述言語で名称は「スタイル」（現在も機能拡張中） STILは半導体テストのための、設計，シミュレーション，ATEテスト， 故障解析の全ての環境において共通なテストデータの記述言語とし て利用可能 IEEE STIL標準化委員会の活動状況 1450.0 TestPattern Specification (99/3に標準化） 1450.1 Semiconductor Design Environment (05/6に標準化） 1450.2 DC Level Specification (02/12に標準化） 1450.3 Target Tester Specification (07/9に標準化) P.4 Test Flow Specification 2008年投票予定 P.5 Test Method Specification P.4 標準化後活動予定 1450.6 Core Test Language Support (05/11に標準化) P.7 Analog and Mixed signal Specification 活動開始 P.8 Design Information 活動準備中 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 4 2008.09 標準化状況 ＳＴＩＬに含まれるテスト情報 ＳＴＩＬに含まれるテスト情報 1450.0-1999 (テストパターン)：Ｔｅｓｔ Ｐａｔｔｅｒｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ 信号記述、タイミング記述、パターン記述、スキャン情報記述など テストプログラム のパターン情報 1450.1-2005 (設計環境)：Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ Ｄｅｓｉｇｎ Ｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔ より高度なDFT設計に対応した記述。BIST設計、組み込みコアのためのループ およびベクタ内の整数式、およびパターンステートメントでのIf/While記述、 Scan構成の拡張として階層スキャンチェーンの定義など テスト設計への パターン記述の 拡張情報 1450.2-2002 (DCレベル)：ＤＣ Ｌｅｖｅｌ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ 電圧値および電流値の設定、パワーシーケンスを指定するための記述 1450.3-2007(テスター制約)：Ｔａｒｇｅｔ Ｔｅｓｔｅｒ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ テスターの制約記述（テスターの精度や、最大信号数、ベクタメモリなど) ‘08年投票 予定 P1450.4(テストフロー)：Ｔｅｓｔ Ｆｌｏｗ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ テストシーケンス個々のテストに対するパラメータ、テスト手法定義のためのフ レーム等の記述 P.4標準化後 活動予定 P1450.5(テストメソッド)： Ｔｅｓｔ Ｍｅｔｈｏｄ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ テスト実行記述(測定アルゴリズム、デバッグオプション、スループット最適化オ プション、データログオプション等の定義記述など) 1450.6-2005 (コアテスト)：Ｃｏｒｅ Ｔｅｓｔ Ｌａｎｇｕａｇｅ Ｓｕｐｐｏｒｔ コアインスタンス記述、信号記述、スキャン記述、パターン記述、故障検出情報 記述など テストプログラム のテスター制御 情報 IPテストパター ンの制御およ び利用情報 ※ 1450.6.1/.6.2/.7/.8の標準化WGの組織化など活動開始 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 5 2008.09 STILを用いることのメリット 独自言語利用における問題点 独自言語利用における問題点 利用の限界があり、十分なテスター機能の利用には常に言語拡 利用の限界があり、十分なテスター機能の利用には常に言語拡 張と機能の拡充が必要 張と機能の拡充が必要 EDAベンダー，ATEベンダー，ｾﾐｺﾝﾒｰｶー及びお客様とのｲﾝ EDAベンダー，ATEベンダー，ｾﾐｺﾝﾒｰｶー及びお客様とのｲﾝ ﾀーﾌｪｰｽ(I/F)には言語の習得が必要 ﾀーﾌｪｰｽ(I/F)には言語の習得が必要 STILの利用によるメリット STILの利用によるメリット 共通言語としての 会話が可能 テスト環境の共通利 用が可能 SoCユーザーのテス トI/Fの負担が軽減 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 6 2008.09 STILインターフェースのテスト環境構築の目的 設計ツール、装置間でのデータ変換作業を無くす。 共通テスト言語の利用により開発TATを短縮する。 各社/各工程間でSTILをインターフェースとして共通利用。 STILインターフェースのテスト環境 テスト設計 設計検証 0 1 1 スキャン設計 テスト生成 L シミュレータ テスト 故障解析 テスタ 故障解析ツール 101010 111111 010000 テストパターン生成 テストプログラム生成 STIL Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 7 2008.09 ＳＴＩＬインターフェースのテスト開発環境 システム設計 ＞ 検証 ＞ レイアウト ＞ マスク作成 ＞ 試作 ＞ 評価 ＞ 量産 テスト設計 設計検証 0 1 1 スキャン設計 テスト生成 L シミュレータ ＢＩＳＴ設計 テスト 故障解析 テスタ 故障解析ツール 101010 111111 010000 テストパターン生成 テストプログラム生成 ＳＴＩＬ （STILをベースとしたテスト環境構築により） ・テスト関係のデータを全てＳＴＩＬでハンドリング。 ⇒ 各フェーズでのデータ変換／修正作業が不要となる。 開発TAT １／２ ＊当社モチーフ 製品による ・TRC（Tester Restriction Checker）により、問題データは流さないし、受け取らない仕組み。 ⇒イタレーションを防止。 ・テスト情報（テストプログラム／パターン）をSTILで持つことにより、テスト資産の再利用が容易。 ・STILをサポートする最適なツール／テスト装置の導入が可能。 ⇒コストパフォーマンスの高いツール／装置の速やかな利用。 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 8 2008.09 STILインターフェースのテスト開発フロー NET STIL テストパターン (手作成STIL、IP としてのSTIL) ATPG STIL1450.3(TRC) STIL 設計検証 STIL テストパターン From Design ピン情報 STIL STIL テストパターン STIL1450.3(TRC) ボード結線情報 テストスペック テスター変換 (メイン、パターン） テストフロー STIL1450 .3/.4/.5標準化前 テスト プログラム テスター パターン テスター 制御情報 STIL1450.2 STIL P1450.4 テストメソッドなど STIL P1450.5 STIL1450 .3/.4/.5標準化後 STIL テストプログラム 従来型テスター or 新規STIL Drivenテスター ※STARC資料より抜粋 STIL テスタ－制御情報ファイル (STIL記述へ拡張中) その他のファイル 故障診断 STIL STIL1450.1 (フェイル情報) ツール/装置 (最適なものを選択可能) Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 9 2008.09 STILインターフェースのテスト環境の構築 ０６ ０７上 ０７下 ０８上 ０８下 ◆ＳＴＩＬ標準化状況 ０９下 1０上 1０下 ▼標準化承認（見込含む） ▲標準化公表（見込含む） 標準化済み（1999年） 標準化済み(2005年） 標準化済み（2002年） 標準化済み（2007年） 1450.0 テストパターン記述 1450.1 設計環境記述 1450.2 ＤＣレベル記述 1450.3 テスタ－制約記述 ０９上 標準化 1450.4 テストフロー記述（推定） 標準化 1450.5 テストメソッド記述（想定） 標準化済み(2005年） 1450.6 コアテスト記述（ＣＴＬ） 1450.7 ｱﾅﾛｸﾞﾐｯｸｽﾄﾞｼｸﾞﾅﾙ記述 1450.8 設計情報記述（DelayTestなど） 組織化など活動開始 ◆東芝の動き ＳＴＩＬＤｉｒｅｃｔｏｒの販売開始 ＳＴＩＬ言語のｅラーニング （２００２／下～） （２００３／上～） ◆ＳＴＡＲＣ ＳＴＩＬテスト推進委員会の活動状況 STIL活用ガイド (２００５年度より活動開始) STIL活用ガイド Rev1.0(日英)発行 Rev2.0(日英)発 ①ＳＴＩＬ活用ガイドの作成 ②ＳＴＩＬテストプログラム化の推進 ③ＳＴＩＬデータの互換性の確保 テスター制御情報の整理 あすか２ ΦⅠ 1450.5 1450.4 1450.7&8 ＳＴＩＬ活用枠組みの整備 ＳＴＩＬﾃｽﾄ開発ﾌﾛｰの構築、整備 あすか２ ΦⅡ ◆ＳＴＣ STIL WG Japanの活動状況 STC STIL WG Japan 活動 ①STC ＳＴＩＬ WG をリスタート ②ＳＴＩＬ活用のコンセンサス形成 ③ＳＴＩＬ標準化とSTILサポートの促進 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 10 2008.09 ２. TM STILDirector の構成、機能 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 11 2008.09 STILDirectorTMとは？ 東芝デザインキットの一部を切り出した 汎用のSTIL対応のプラグインシステムです 東芝デザインキット シミュレーター STIL STILDirectorTM テスター STILベースのテスト環境が 早く安く確実に構築できます Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 12 2008.09 STILDirectorTMのプラグイン例 東芝設計環境用 インターフェース ＋ SＴＩＬＤｉｒｅｃｔｏｒTM 東芝STIL DK お客様の 設計環境用 インターフェース ＋ SＴＩＬＤｉｒｅｃｔｏｒTM お客様STIL DK Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 13 2008.09 ＳＴＩＬ環境を 早く、安く、確実 に構築！ STILDirectorTMのプラグイン ●用途に合わせたプラグインが可能。 ●プログラム毎に実行コマンドを準備し、組み込み可能。 ●STILデータベースのアクセスインターフェースを用い て、お客様の環境に合わせたカスタマイズが可能。 STILDirectorTM STILDirectorTM ＳＴＩＬインターフェース のテスト環境の構築に STILDirectorTMを標 準プラグインシステム として利用可能 STILDirectorTM お客様システム テスターインターフェースとして STILDirectorTM お客様システム お客様システム STILインターフェースとして シミュレーターインターフェースとして Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 14 2008.09 システムソリューション STILインターフェースの テスト環境 S T I L を 共 通 言 語 と し た 環 境 構 築 に よ り 設 計 ～ テ ス ト 、 解 析 ま で の 開 発 T A T を 短 縮 ！ テスト設計 設計検証 0 1 1 テスト生成 L シミュレータ テスト 故障解析 テスタ 故障解析ツール 101010 111111 010000 テストパターン生成 お客様システム テストプログラム生成 STILパーサー シミュレータ 入力データ作成 テストプログラム 生成 STILジェネレー ター DC測定 アドレス抽出 ピンマルチ/パ ターンマルチ変換 テスタ ルールチェック 結果解析・ サイクライズ インクルードファイ ル抽出 テスタ/逆テスタ インターフェース パターンビット 並び替え 故障Sim/故障解析 インターフェース マスク編集 アクセス インターフェース STILDirectorTM STIL（ｽﾀｲﾙ）ﾃﾞｰﾀ テストパターン 展開 テストデータ記述 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 15 2008.09 STILDirectorTMの構成 STIL対応のオープンプラグインシステム! STILDirectorTM 基本パッケージ STILデータの編集 お客様のデータ ・テスト生成ツール ・ファンクションベクタ ・ＩＰテストベクタ パターンビット 並び替え テストパターン 展開 ピンマルチ／パター ンマルチ変換 STIL パーサー STIL ジェネレータ テスタの制約検査 インクルード ファイル抽出 シミュレータとのＩ／Ｆ STILデータとのI/F STIL マスク編集 シミュレータ 入力データ作成 STIL DataBase テスタ ルールチェック 入力データ 結果解析・ サイクライズ シミュレータ DC測定 アドレス抽出 出力結果 拡張パッケージ STIL対応モデル お客様のシステム とのＩ／Ｆ （オプション） アクセス インタフェース テスタと のＩ／Ｆ （オプション） テスタ／逆テスタ インタフェース 故障シミュレ ータとのＩ／Ｆ （オプション） 入力データ 故障シミュレータ インタフェース STILデータのご利用に! お客様の システム テスタ ＬＳＩ 故障シミュレータ テストプログラムと設計データ との情物一致が実現 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 16 2008.09 STILDirectorTMの特長 １．STILデータとのインターフェース ■STILデータの読み込み及び出力ができます ■STILの言語仕様上の違反をチェックできます ２．シミュレーターとのインターフェース ■各種シミュレーターの入力を生成できます ■各種シミュレーターの結果ファイルを入力できます ■シミュレーション結果を解析することができます ■シミュレーション結果から期待値を自動抽出しSTILファイルを作成できます ■DC測定アドレスを自動的に抽出します ３．テスターとのインターフェース ■テスターで使用できるパターン記述であるかを、テスター実行前にチェックできます ■シミュレーション結果をサイクライズできます ４．お客様システムとのインターフェース ■利用者の環境へプラグインできるオープンシステム構成となっています ■データベースのアクセスインターフェースにより、カスタマイズサービスを提供で きます。 ５．その他 ■STILDirectorTMはエンジニアリングワークステーション、PC上で動作します Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 17 2008.09 STILDirectorTMの利用環境 ◆プラットフォーム EWS(SPARC/UltraSPARC) Sun Solaris 8、9、10（32bit/64bit) PC（Intel x86） Windows2000、XP （32bit） PC（AMD Opteron） RedHat Enterprise Linux v.3（32bit/64bit） RedHat Enterprise Linux v.4（64bit） SuSELinux Enterprise 10 （64bit） ＊下記のプラットフォームは、2007.08までのサポートです。2008Aからはサポート致 しておりま せん。 EWS(SPARC/UltraSPARC) Sun Solaris 7（32bit/64bit) ◆サポートシミュレーター Verilog-XL NC-Verilog ModelSim VCS NC-VHDL NC-SIM V5.6, V5.7, V5.83 V5.7, V5.83, V6.1 V6.1, V6.2a, V6.3 V7.2，V2005.06、V2006.06 V5.5, V5.6, V5.7 V5.5, V5.6, V5.7 ※各ベンダーのシミュレーターとプラットフォームの組み合わせについては基本的に各ベンダーが公開しているサポート情報に準じます。 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 18 2008.09 ATPGとのインターフェース 次のATPGツールで出力したSTILを扱えます ＊注）ATPGツールのバージョン、オプションによっては、出力したSTILを扱えない場合もございます。 Synopsys社 TetraMAX STIL Mentor社 FastScan STIL Cadence社 EncounterTest ATPG Work-Around STIL STILパーサー （S2T) STILDirectorTM Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 19 2008.09 故障シミュレータとのインターフェース 次の故障シミュレーターとのインタフェースが可能です -Cadence VeriFault -Syntest TurboFault -Synopsys TetraMAX IDDq テスターとのインターフェース 次のテスター用テストパターンが出力できます -ADVANTEST（T33xx、T6xxx） ※2009AバージョンよりT2000をサポート予定。 STILDirectorTMでサポートしていないテスターについては、 アクセスインターフェースを用いて容易に開発ができます。 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 20 2008.09 ３. TM STILDirector の利用環境 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 21 2008.09 STILDirectorTMの販売形態 ■ STILDirectorTMタイムライセンス販売 (１年間、メンテナンス付） ● 基本パッケージ （プラットフォームフリー） STILパーサー／STILジェネレーター／シミュレーター入力作成 結果解析・サイクライズ／DCアドレス抽出／テスタールールチェック／STILデータ編集 ● 拡張パッケージ １．STILデータベースアクセスインターフェース （プラットフォームフリー） ２．テスターインターフェース （プラットフォーム限定） ３．故障シミュレーターインターフェース （プラットフォーム限定） ● STIL対応モデルパッケージ （プラットフォーム限定） ● STILPlannerTM 基本パッケージ （プラットフォーム限定） ● テストジュネレータ（テストプログラム生成） （プラットフォーム限定） ■ カスタマイズサービス ● コンサルテーション～インプリメンテーション、運用 ■ その他サービス ● トレーニング ● e-ラーニング Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 22 2008.09 STILDirectorTMの販売パッケージ構成 STILデータの編集 お客様のデータ ・テスト生成ツール ・ファンクションベクター ・ＩＰテストベクター パターンビット 並び替え テストパターン 展開 ピンマルチ/パターンマ ルチ変換 シミュレータとのＩ／Ｆ STILデータとのI/F STIL パーサー STIL STIL ジェネレータ インクルード ファイル抽出 マスク編集 ① STILDirector TM 基本Pkg STIL DataBase シミュレータ 入力データ作成 入力データ 結果解析・ サイクライズ シミュレータ DC測定 出力結果 テスタの制約検査 ⑤ STILDirectorTM テスタ ルールチェック アドレス抽出 STIL 対応 モデル Pkg STILDirector 拡張Pkg ② Tester I/F お客様のシステム とのＩ／Ｆ （オプション） アクセス インターフェース テスターとの Ｉ／Ｆ （オプション） テスター/逆テスター インターフェース 故障シミュレ ータ/故障解析 ツールとのＩ／Ｆ （オプション） 故障Sim/故障解析 インターフェース テスタ制御情報API生成 お客様の システム テスタ制御情報生成 テスター （各社テスター情報出力） Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 入力データ 故障シミュレータ/ 故障解析ツール ③ STIL Planner 基 本Pkg ④ Test Generator 23 2008.09 STILDirectorTM テストプログラム生成用セットモデル （３）テストプログラム生成パッケージ （２）テストプログラム生成基本部 STILからテストプログラム生成まで行い たいお客様に！ （１）テストパターン生成パッケージ STIL ①STILDirector TM 基本Pkg ・STILデータからシミュレーション入力データを生成 ・シミュレーション出力結果からSTILデータを生成 ②Tester I/F ・DC測定アドレスの抽出 ③STILPlannerTM 基本Pkg ・パターン編集機能 ・テスタ用テストパターンを生成 ・APIでテストプログラム生成システムへインターフェース ④Test Generator API 横河 TS6000 ・テストプログラム or テストメーカーのテストプログラム 生成システムへの入力データ作成 Sim Bench STIL XTF Test Pattern AGEX Test Program Tester TS6000 Templ ate SIF ADVAN T6XXX ADVAN T33XX Templ ate Siteseer Test Program Test Program T6XXX Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. T33XX 24 2008.09 STILDirectorTM STIL対応モデル タイプⅠ～Ⅳ STILデータの読み込み、書き込みが容 易に行えます。 ソフトウェア構成 タイプ Ｉ ＳＴＩＬパーサー テスタルールチェック コメント アクセスインターフェース （Ｒｅａｄ） テスタのＳＴＩＬ対応等で利用。 ＳＴＩＬデータを顧客システム用データ に変換する場合に利用。 ※ ＳＴＩＬデータから読み込むアプリケーションの開発／運用 専用です。 タイプ ＩＩ ＳＴＩＬジェネレータ テスタルールチェック アクセスインターフェース （Ｗｒｉｔｅ） ※ ＳＴＩＬデータへ書き出すアプリケーションの開発／運用 専用です。 タイプ ＩＩＩ ＳＴＩＬパーサー テスタルールチェック アクセスインターフェース （Ｒｅａｄ） ＳＴＩＬジェネレータ テスタルールチェック アクセスインターフェース （Ｗｒｉｔｅ） テスタでのチューニング結果をＳＴＩＬ データに変換する場合に利用。 顧客システム内のデータをＳＴＩＬに 変換する場合に利用。 タイプ Ｉ と タイプＩＩを合わせたモデル アクセスインターフェースのＲｅａｄと Ｗｒｉｔｅのそれぞれで作成したアプリ ケーションは同時実行できるが、 １つのアプリケーションでＲｅａｄと Ｗｒｉｔｅの両動作をさせる事はでき ない。 ※ アクセスＩ／ＦのＲｅａｄとＷｒｉｔｅを同時に使用する事はできません。 タイプ ＩV ＳＴＩＬパーサー テスタルールチェック ＳＴＩＬジェネレータ アクセスインターフェース （Ｒｅａｄ／Ｗｒｉｔｅ） ｱｸｾｽｲﾝﾀｰﾌｪｰｽは拡張ﾊﾟｯｹｰｼﾞの ものと同じ。 顧客システムのＳＴＩＬ対応等で 利用。 ※ アクセスＩ／ＦはＲｅａｄとＷｒｉｔｅを同時に行う事ができます。 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 25 2008.09 STILDirectorTMの提供サービス ■アップデートバージョン提供（ライセンス期間内無償） - メジャーリリース 2回/年 - マイナーリリース 適宜 ■カスタマイズサービスの請負（有償） - お客様の環境へSTILDirectorをプラグインするための開発を請け負います。 ・アクセスインターフェースを使用した個別のアプリケーションの開発を請け負い ます。 ■カスタマイズサービスご提供例 ・STILデータから各社専用テストデータへの変換アプリケーション開発 ・STILデータから各社テスタ環境のテストプログラムへの変換アプリケーション開発 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 26 2008.09 STILDirectorTMの提供サービス ■弊社販売代理店：販売は代理店経由にて行っております。 １、緑屋電気株式会社（技術サポートは当社が実施） ○連絡先 TEL：03-3561-4556 E-Mail：yuuki-nakamura@midoriya.co.jp 担当：中村 ○会社概要 社名 緑屋電気株式会社 本社所在地 〒104-8307 東京都中央区京橋2-7-19（守随ビル） 取締役社長 黒羽 誠 設立 昭和21年11月1日（1946年） 資本金3億2,100万円 ＊会社概要は緑屋電気殿Webサイトより抜粋（2008年6月現在） Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 27 2008.09 STILDirectorTMの提供サービス ■弊社販売代理店：販売は代理店経由にて行っております。 ２、ATEサービス株式会社（技術サポートはATEサービス殿が実施） ○連絡先 TEL：044-850-8714 E-Mail：sd_support@ate.co.jp 担当：加藤 ○会社概要 社名 ATEサービス株式会社 所在地 川崎市高津区久本3-5-7 新溝ノ口ビル3F 代表取締役社長 佐々裕一 設立 昭和58年2月1日 資本金 4,700万円 ＊会社概要はATEサービス殿Webサイトより抜粋（2008年6月現在） Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 28 2008.09 STILDirectorTMの提供サービス ■製品サポートサービス Webサポートシステムにより、STILDirectorTM について以下のサービスを 提供致します。 - 問い合わせ とその回答 (＊) - 製品情報のアップデート - ダウンロード機能（アップデート情報、各種マニュアル） (＊) - 利用ノウハウなど ★ 迅速なサービスの提供 - お客様から連絡を頂いた後、ワーキングデーで24h以内に一時回答および 回避策／暫定策を連絡致します (＊) - お客様から連絡を頂いた後、ワーキングデーで2週間以内に抜本的な Solutionの提供を目指しています(＊) （＊）付き項目のサービスは、販売代理店が緑屋電気殿の場合、当社が行います。 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 29 2008.09 STILDirectorTMの提供サービス ■サポート窓口 Web： http://www.tosmec-web.toshiba.co.jp/stildirector/ E-mail：STILDirector@tosmec.toshiba.co.jp TEL： 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 テスト環境技術開発部 044-220-1052 STILDirectorサポート窓口 044-220-1052 受付時間 10：00～17：00 土・日・祝日・弊社休業日を除く ※弊社休業日についてはWebサイトをご確認下さい。 FAX: 044-220-1039 STILDirector Webサイト Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 30 2008.09 付録 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 31 2008.09 東芝におけるSTIL移行事例 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 32 2008.09 東芝におけるSTILへの移行事例 旧言語からのSTILへの変換ツールを準備 STIL TSTL2 TSTL2 D.K. TSTL2STIL STIL D.K. STIL Director シミュレーター テスター Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 33 2008.09 東芝におけるSTILへの移行事例 2002年1月からSTILへ切り替え実施 ’０１ Oct ＶＳＯ /VITA LSO STIL V1.0 Nov 1.11xx βRelease （VSO1.11ベース） ’０２ Dec Jan Feb Mar Apr May Jun ’０３ Jul Aug Sep Oct 1.12 Nov Dec 1.13 Jan Feb Mar Apr May Jun 1.14 Jul Aug Sep 1.XX Oct Nov Dec 2.3 TSTL2 D.K. STIL D.K. TSTL2STIL STIL V1.1 βRelease STIL D.K. （VSO1.12ベース） TSTL2STIL STIL V1.2 βRelease (VSO113ベース） STIL D.K. TSTL2STIL STIL V2.0 STIL D.K. βRelease (VSO1.14ベース） TSTL2STIL STIL V2.1 最初はTSTL2 D.K.とSTIL D.K.、および TSTL2からSTILへの変換ツール (TSTL2STIL)を一式としてD.K.を提供 STILへの移行状況をみてSTIL D.K.と TSTL2STILのみのD.K.への切替えを実施 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 34 2008.09 STILDirectorTM （補足説明） Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 35 2008.09 STILDirectorTMを使用した全体フロー ｼｽﾃﾑｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ ｼﾐｭﾚｰｼｮ ﾝ結果 ﾀｲﾐﾝｸﾞ情報 接続情報 ﾃｽﾄﾃﾞｰﾀ作成 SIM２STIL RTLｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ結果等から観測ﾎﾟｲﾝﾄに対して のﾃｽﾄﾊﾟﾀｰﾝ抽出→STILﾃｽﾄﾃﾞｰﾀ 論理検証用入力ﾊﾟﾀｰﾝ作成 STIL2SIM STILﾃｽﾄﾃﾞｰﾀから各種ｼﾐｭﾚｰﾀｰ（論理検証） 用の入力ﾃﾞｰﾀ作成 論理検証 ｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ実行 ｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ結果解析 SIM2STIL ｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ期待値抽出 ﾃｽﾀｰ用ﾊﾟﾀｰﾝ変換 論理検証のためのｼﾐｭﾚｰｼｮﾝ結果からSTIL ﾃｽﾄﾃﾞｰﾀの作成 STILDirectorTM STIL Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 36 2008.09 STILDirectorTMの全体構成およびフロー STIL STIL DK Simulator I/F (T2SIM,SIM2T) シミュレーター （論理検証） 基本ﾊﾟｯｹｰｼﾞ STILｼﾞｪﾈﾚｰﾀｰ (T2S) STILﾊﾟｰｻｰ (S2T) ② ① STIL DB ｱｸｾｽ ｲﾝﾀｰ ﾌｪｰｽ ﾊﾟﾀｰﾝﾋﾞｯﾄ並び替え ﾋﾟﾝﾏﾙﾁ/ﾊﾟﾀｰﾝﾏﾙﾁ変換 (SCNV) (STILMUX) ﾃｽﾄﾊﾟﾀｰﾝ展開 ﾏｽｸ編集 (PATEXP） (PATCHG） インクルードファイル抽出 ﾙｰﾙﾁｪｯｶｰ (STILDIV） (TRC) ﾙｰﾙ記述 ﾃｽﾀｰ I/F 故障ｼﾐｭﾚｰﾀｰI/F 拡張ﾊﾟｯｹｰｼﾞ ①STIL2SIM ②SIM2STIL Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 37 2008.09 STILDirectorTMのコマンド 主要コマンド ①STIL2SIM S2T,TRC,T2SIMの３コマンドで構成されます。 STILテストデータファイルの記述をチェックし、シミュレーション中に印加する入力信号に 変換 します。また、テスター制約チェックを行います。 ②SIM2STIL T2S,TRC,SIM2Tの３コマンドで構成されます。 シミュレーション中のI/Oピンの値の変化を期待値付きのSTILテストデータファイルに変換し ます。結果解析・サイクライズおよびＤＣ測定アドレスを抽出します。また、テスター制約チェック を行います。 ＳＴＩＬデータとのＩ／Ｆ ◆S2T STILテストデータファイルの記述をチェックし、STILデータベースファイルに変換します。 ◆T2S STILデータベースファイルをSTIL形式のSTILテストデータファイルに変換します。 シミュレータとのＩ／Ｆ ◆T2SIM STILデータベースファイルからシミュレーター入力データファイルを作成します。 ◆SIM2T シミュレーション結果ファイルをSTILデータベースファイルに変換します。 また、結果解析・サイクライズおよびＤＣ測定アドレスを抽出します。 テスタ制約の検査 ◆TＲＣ テスター制約チェックを行います。 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 38 2008.09 テスター対応を考慮した論理検証 実動作により近い形でシミュレーション検証が可能になる （ａ）Delay付きNRZ波形の初期値指定（論理検証用入力ﾊﾟﾀｰﾝ作成時） テストパターンのロード 順により初期状態が 変わる。 テスト時の初期状態を考慮した 初期値をオプションで指定可能。 init=[X|0|1] （ｂ）I/Oピン 出力→入力切替直後のNRZ波形状態値指定（論理検証用入力ﾊﾟﾀｰﾝ作成時） 出力ﾓｰﾄﾞ テスター機種により、 状態値が異なる。 入力ﾓｰﾄﾞ テスター機種に併せて切り替え直後の状態値を 指定可能。 setoi=prev_in …出力状態直前の入力 ﾊﾟﾀｰﾝ値により値を決定 prev_out …出力期待値により値を決定 X …Delay区間をXとして実行 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 39 2008.09 （ｃ）ストローブマージンチェック（シミュレーション結果解析時） 出力波形のストローブ前後の安定領域をマップ表示する。 PIN_NAME:IO10 ----********************************************** STB_TIME = 30, 10 LEFT:8.000 (CYCLE_START_TIME:0.000) 22.000 + 60.000 RIGHT:100.000 (CYCLE_START_TIME:0.000) （ｄ）コンフリクト／フローティングチェック（シミュレーション結果解析時） 双方向ピンに対するコンフリクト／フローティングの発生領域をマップ表示する。 PIN_NAME:IO11 XXXXX--------------------------------------------+ LEFT:0.000 RIGHT:10.000 (CYCLE_START_TIME:0.000) (CYCLE_START_TIME:0.000) Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 40 2008.09 STILPlannerTM及びテスタI/Fのご紹介 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 41 2008.09 STILDirectorTM/STILPlannerTM 構成 お客様のデータ ・テスト生成ツール ・ファンクションベクター ・ＩＰテストベクター パターンビット 並び替え STILDirectorTM STILデータの編集 テストパターン 展開 ﾋﾟﾝﾏﾙﾁ/ﾊﾟﾀｰﾝﾏﾙﾁ 変換 マスク編集 インクルード ファイル抽出 シミュレータとのＩ／Ｆ STILデータとのI/F STIL パーサー STIL 基本パッケージ シミュレータ 入力データ作成 STIL DataBase STIL ジェネレータ テスタの制約検査 テスタ ルールチェック 入力データ シミュレータ 結果解析・ サイクライズ DC測定 アドレス抽出 出力結果 拡張パッケージ ﾃｽﾄﾊﾟﾀｰﾝ 作成に利用 （ﾃﾞｻﾞｲﾝｷｯﾄ として利用中） お客様のシステム とのＩ／Ｆ （オプション） アクセス インターフェース テスターと のＩ／Ｆ （オプション） テスター/逆テスター インターフェース テンポラリデータ お客様の システム ﾃｽﾄﾌﾟﾛｸﾞﾗﾑ 作成に利用 故障シミュレ ータ/故障解析 ツールとのＩ／Ｆ（オプション） 故障Sim/故障解析 インターフェース テストパターン STILPlannerTM テスタとのＩ／Ｆ テストプログラム 生成 入力データ 故障シミュレータ/ 故障解析ツール テストプログラム テスター Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. ＬＳＩ 42 2008.09 テスタ I/F 拡張パッケージとテストプログラム生成ツール STILDirectorで作成されたSTILデータを入力としてLSIテスタ用テストパターン，テスト プログラムを生成するツールです。 ◇ テスタI/F拡張パッケージ テスタ用テストパターンソースを生成します。 対象テスタ ：（株）アドバンテスト社製 T6500/6600シリーズ T33xxシリーズ ＊TS6000シリーズに関しては、横河電機殿がテストパタ ーン生成ツール (STIL-Converter/STIL-WRITE)を提供されております。 ◇ 対象プラットフォーム：Solaris 8/9、RedHat Enterprise Linux 3.0 ◇ STILPlannerTM テスタI/Fで生成したテストパターン情報等を利用して、テスタ用テストプログラムソー スを生成します。（注意： T6500/6600シリーズはSIF、 TS6000シリーズはXTFを生成 します。) 対象テスタ ：（株）アドバンテスト社製 T6500/6600シリーズ T33xxシリーズ 横河電機（株）社製 TS6000シリーズ ◇ 対象プラットフォーム：Solaris 8/9 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 43 2008.09 テスタ用パターン，テストプログラム生成の処理フロー STIL テスタＩ／Ｆ STILPlannerTM STILパーサー処理 拡張 SDB STIL DａｔａＢａｓｅ ピン情報 ファイル ｽﾍﾟｯｸ情報 ファイル ﾃｽﾄｵｰﾀﾞｰ ファイル ﾃﾝﾌﾟﾚｰﾄ Siteseer @ ADVANTEST テスタ用パターン出力処理 テスタ制御情報生成処理 テストプログラム 生成処理 SIF テストパターン パターン情報 テストプログラム テ ス タ Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 44 2008.09 STILBuilderTMのご紹介 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 45 2008.09 ＳＴＩＬＢｕｉｌｄｅｒTM ・STILを新規作成、編集、情報検索、記述チェックなどが出来るWindowsで動作す るSTIL専用のエディタツール。 STIL1450.0、1450.2、1450.1（一部）に対応。 シミュレータ入力ファイル作成 シミュレータ入力ファイル作成 ＳＴＩＬ文法チェック ＳＴＩＬ文法チェック テスター制約チェック テスター制約チェック シミュレーション結果解析 シミュレーション結果解析 TM STILBuilder STILBuilderTM STILDirectorとの 連動により可能 ﾀﾋﾞｭﾗｰ表示・編集 ﾀﾋﾞｭﾗｰ表示・編集 波形表示・編集 波形表示・編集 パターン編集 パターン編集 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 46 2008.09 TM" ""STILBuilder STILBuilderTM の特徴 "の特徴 TM STILBuilder STILBuilderTMは下記に示す様々な便利な機能を持っている。 は下記に示す様々な便利な機能を持っている。 波形表示・タビュラー形式でのパターン表示機能 波形表示・タビュラー形式でのパターン表示機能 指定時刻に対応するパターン検索、スキャン F/Fに対応するパターン検索 指定時刻に対応するパターン検索、スキャンF/Fに対応するパターン検索 GZIP ファイルのサポート機能 GZIPファイルのサポート機能 UNIX 上のSTILファイル編集のためのFTP機能 UNIX上のSTILファイル編集のためのFTP機能 パターンのマスク機能 パターンのマスク機能 タブ切替えによる複数の STILファイルの編集機能 タブ切替えによる複数のSTILファイルの編集機能 STIL1450.0 およびSTIL1450.2に準拠したSTIL作成 STIL1450.0およびSTIL1450.2に準拠したSTIL作成 インクルードファイルへの出力、インクルードファイルからの容易な展開 インクルードファイルへの出力、インクルードファイルからの容易な展開 STIL を構成する各ブロックへの移動、指定行への容易な移動 STILを構成する各ブロックへの移動、指定行への容易な移動 専用のステートメントツリービューからの簡単な挿入 専用のステートメントツリービューからの簡単な挿入 ファイルビュー画面からの STILファイルの簡単なオープン ファイルビュー画面からのSTILファイルの簡単なオープン キーワードなどの着色、改行コードの自動認識 キーワードなどの着色、改行コードの自動認識 TM STILDirector STILDirectorTMの各機能を外部コマンドとして利用が可能 の各機能を外部コマンドとして利用が可能 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 47 2008.09 波形表示・タビュラー形式でのパターン表示機能 波形イメージで編集したパターンは 波形イメージで編集したパターンは STIL STIL記述で出力可能 記述で出力可能 タビュラー形式の パターン表示 STIL STIL記述からは分かり難いパターン 記述からは分かり難いパターン 情報を、タビュラー形式で分かり易く 情報を、タビュラー形式で分かり易く 表示し、編集も可能 表示し、編集も可能 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 波形イメージでの パターン表示 48 2008.09 指定時刻に対応するパターン検索、スキャンF/Fに対応するパターン検索 指定時刻(例えばシミュレーションの期 待値不一致の時刻など)を基にして対 応するSTILパターンを検索する機能 シフトパターンのうち、選択したス キャンF/Fに対応するSTILパターン を検索する機能 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 49 2008.09 STIL言語学習システムのご紹介 （STIL eラーニング） Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 50 2008.09 「STIL言語学習システム」（STIL ｅラーニング） ※STIL言語のｅラーニング提供開始（‘03/4/7～） 解説 ・ユーザー管理 ・ユーザー管理 ・進捗管理 ・進捗管理 ・理解度管理 ・理解度管理 章毎のトップページ 演習 問題 利用者 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 51 2008.09 ＳＴＩＬ ｅラーニングの利用方法 http://www.tosmec-web.toshiba.co.jp/stildirector/ STIL学習 システム 利用者 体験コース 購入申請 体験コースはeラーニングの操作方法と STILとは何かを学習できる 「eラーニング」トップページ TOSHIBA サイトID発行 ユーザー登録 なしで 体験可能 ユーザー登録申請 TOSHIBA 登録完了 利用開始 利用開始 ＳＴＩＬ eラーニングトップページ https://www.tosmec-web.toshiba.co.jp:8443/stildirector/training/e-learn/index.html Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 52 2008.09 ＳＴＩＬ eラーニングのユーザーサポート 受講履歴 理解度テストの 結果参照 パーソナル情報 ユーザー登録 情報の参照 進捗状況 表示色で受講 箇所の確認 「受講済み」 「受講中」 「受講未」 お問い合わせ 講師への質問と 問い合わせ 終了ページ保存 学習済みページ の保存機能 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. ライセンス期間 利用期間の表示 残り日数の表示 53 2008.09 STIL ｅラーニング講座の開講状況 開講講座 ・ 「STIL1450.0基礎講座」 開講中 STIL言語の基本仕様にあたる、信号、タイミング、スキャンなどのテストパターン記述に関す る基礎知識を理解する ・ 「STIL1450.0応用講座」 開講中 「STIL1450.0基礎講座」では学ばなかった、変数によるタイミング定義、パターンのイベン ト記述やHex値表記、定義情報の継承や部分定義の再利用による柔軟なタイミング定義など、高 度な記述方法を理解する ・「STIL1450.1基礎講座」 開講中 ATPGツールで出力されるスキャンパターンの記述機能、ブール式などの演算子を使って、ア ルゴリズミックなテストパターンの記述を理解する ・ 「STIL1450.２講座」 開講中 電圧値や電流値などテストプログラムのテスト制御情報としてDCレベルに対するSTIL記述方 法について理解する 拡張仕様に対するeラーニングの講座 ・STIL1450.1応用講座 準備中 ・STIL1450.3講座 準備中 ・STIL1450.4講座 ・STIL1450.5講座 ・STIL1450.6講座 準備中 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 54 2008.09 故障解析インターフェースのご紹介 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 55 2008.09 STIL用故障解析インターフェースの構築 故障解析作業フロー テスター 接続 データ ATPG STIL TetraMAX FastScan TestBench 故障候補 ノード 故障診断装置へ テスター フェイル ログ 新規開発 故障診断 各故障解析 ツール用 ファイル 故障解析インターフェース 共通フェイル情報作成部 パターン情報作成部 各種故障情報作成部 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 56 2008.09 STIL用故障解析インターフェースの構築(続き) 故障解析インターフェース テスター フェイルログ 共通フェイル情 報作成部 共通故障 ファイル STIL パターン名 サンプルNo DUT No フェイルアドレス フェイルピン名 期待値 実測値 パターン情報 作成部 パターン 情報ファイル 全プライマリパターンに 対するATPGパターンア ドレスと先頭からの展開 アドレスの対応 各スキャンパターンの先 頭パターンに対する ATPGパターンアドレス と先頭からの展開アドレ スの対応 各種故障情報作成部 各故障解析 ツール用 ファイル フェイルしたパターンアドレス フェイルピン名 フェイルしたFF位置 実測値など Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 57 2008.09 ●本資料に掲載してある技術情報は，製品の代表的動作・応用を説明するためのもので，その 使用に際して当社及び第三者の知的財産権その他の権利に対する保証または実施権の許諾 を行うものではありません。また、本資料の掲載内容は、技術の進歩などにより予告なしに変更 されることがあります。 Copyright © TOSHIBA MICROELECTRONICS CORPORATION 2002－2008, All Rights Reserved. 58
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