ANALYTICAL NEWS 067 No. ● トピックス ● 新製品紹介 FT NMR装置 JNM-ECX400P 高性能コンパクト走査電子顕微鏡 JCM-5700 ● 製品紹介 SEM の PC によるデジタル化、高精細度化 の実現 ● 技術情報 “AccuTOF GC” によるプール血清中POPs の迅速分析 ● JEOL DATUM INFORMATION ● 講習会スケジュール 「nano tech 2006」 国際ナノテクノロジー総合展 「nano tech 2006」国際ナノテクノロジー総 合展・技術会議が 2/21(火)∼ 2/23(木)の 3 日 間、東京ビックサイトにて開催されました。 今年で 5 回目を迎える本展示会は年々その規 模を拡大し、今回も、17ヶ国から260を上回 る団体、企業が出展し、45,868名の来場者を 数えるに至りました。 この展示会は国際的にも類を見ない「ナノテ ク」をキーワードに、企業による商業展示と 大学、研究機関などの成果発表の場が同時に 開催される大変ユニークな展示会として着実 に発展してきています。 弊社は、電子顕微鏡メーカーとして、創業か らナノテクノロジーに関連する企業として、 ナノの世界を「観る」 「測る」 「創る」をテー マに携わってきました。今回の「nano tech 2006」には、『ナノテクと共に！』を展示コ ンセプトとして、熱プラズマ発生装置による ナノ粒子生成から、ここで生成された超微粒 子を観察するのに不可欠なツール最新の電界 放出形走査電子顕微鏡 JSM-7500F の紹介を ナレーターによるパネル説明で行いました。 また、ナノテク時代に不可欠な研究ツールと なっています走査形プローブ顕微鏡 JSPM5400、集束イオンビーム試料作製装置 JEM9320FIB の実機展示をはじめ、可般形 SEM Carry Scope JCM-5700、ナノ粒子生成の自 2 ● ANALYTICAL NEWS 動化に役立つテーブル式粉末供給装置を展示 し、好評を得ました。パネル展示では「電子 ビーム描画装置による次世代デバイス開発」 、 「ナノの世界を身近にする観察ツール FESEM」、「究極のナノ解析ツール FE-TEM」、 「薄膜試料作製でナノ解析を支援するイオン スライサ（IS）」、「核磁気共鳴装置（NMR）に よるナノテク材料の分子構造解析」の技術説 明を行い、多数の来場者に JEOL のナノテク ソリューションを紹介しました。 熱気あふれる 3 日間の展示会で「ナノテク」 は、これから日本の産業が発展していくため の重要なキーワードとなっていることを改め て実感し、弊社も、製品群にますます磨きを かけて、『ナノの世界を観る・測る・創る』 に貢献して行かねばならないと新たな決意を する良い機会となりました。 電子光学機器営業本部 平林嘉之 JEOL DATUM INFORMATION HP5890シリーズ ガスクロマトグラフ、 修理部品保有期間終了のお知らせ 長い間ご愛用いただいております旧ヒューレット・パッカ ード社製（現アジレント・テクノロジー社）HP5890 シリ ーズガスクロマトグラフシステムにつきまして、2006 年 10 月 31 日をもってアジレント・テクノロジー社での修理 部品保有期間が終了となります。 セミナ−開催のご案内 ●固体 NMR への招待（第 6 回） とき 2006年 6月 14 日（水） ところ 日本化学会（東京・御茶ノ水）会議室 講師 大阪大学 蛋白質研究所 藤原敏道先生 固体ＮＭＲの基礎について学びます。 液体と固体 NMR の違いは何か、現在最もよく使われてい ◆ 修理部品保有期間終了期限 る測定法はどんな原理に基づいているのか、などをできる 型 式 期 限 HP5890シリーズガスクロマトグラフシステム 2006年10月31日 だけやさしく解説します。固体 NMR の全般について勉強な さりたい方、これから固体 NMR を使用される方、そして 現在疑問を抱えてお困りの方を対象としています。 ◆ アジレント・テクノロジー社修理部品保有期間終了後の 当社サポート体制について 定 員 35名 参加費 31,500円（消費税込） 1. 2007 年 4 月以降の保守契約内容につきまして、HP5890 シリー ズガスクロマトグラフシステム部分を除いた保守契約の継続が 可能です。 2. 修理部品保有期間終了後も最善のサポートに務めますが、修理 の遅れや、機器の回復が不可能となる場合もございますので、 予めご了承ください。 3. HP5890 シリーズガスクロマトグラフシステムの更新として、 ● お問い合わせ Agilent6890 シリーズガスクロマトグラフシステムを用意して 日本電子データム（株）販売本部 おりますので、ご検討ください。 TEL:042-526-5095 FAX:042-526-5099 詳細は弊社、各センター販売担当部署にお問い合わせください。 「JEOL 総合カタログ 2006」進呈 JEOL 製品の装置名、機種名、主な仕様と特長、標準価格を掲 載した「製品案内」カタログです。 予算申請用、将来のご検討 用にご利用ください。 ＊お申し込み受付後、参加費お振り込みのご案内・会場案内図 などを送らせていただきます。 ＊宿泊のご案内は、ご容赦下さい。 ご希望の方は、弊社 Web サイトより、ご請求下さい。 2006 JEOL EPMA・表面分析 ユーザーズミーティング開催のお知らせ 例年開催し、多くのユーザーより好評をいただいております JEOL EPMA ・表面分析ユーザーズミーティングを下記の通り 開催を予定しております。 詳しくは弊社よりのダイレクトメールでご案内致します。 ●東京開催：平成 18 年 7月 20 日（木）・ 21（金） ●会場予定：東京大学浅野キャンパス 武田先端知ビル武田ホール ●大阪開催：平成 18 年 7月 25 日（火） ●会場予定：ぱるるプラザ京都（京都駅右横スグ） ※エコキャッシュ EcoCache 製品は、この「製品案内」には 掲載されておりません。 ANALYTICAL NEWS ● 3 NMR NM 新製品紹介 FT NMR装 NMR測定室から解放され、自分の居室で効率的に仕事を処理できます。 NMR 測定室 Network サンプルセット 測定条件設定 DELTA Network JNM-ECA Spectrometer SCC サンプルをセット DELTA DELTA DELTA Client Computer Client Computer Client Computer 測定条件を設定。あとは居室にて... 豊富な自動測定ツール オートサンプルチェンジャ オートサンプルチェンジャは、複数の試料を順次自動的に交換すること により、数多くの試料の自動測定を可能にします。4種類（8本、16本、64 本、100本）のオートサンプルチェンジャがラインアップされています。 ASC8（8本） ASC16（16本） ※16本以上のオートサンプルチェンジャはオートサンプルリフタ機能付です。 ASC64（64本） ASC100（100本） オートチューニングユニット オートチューニングユニットを用いることで、核種の切り替えや温度や溶媒の違いにより必要となるプローブのチューニングお よびマッチングの操作がコンピュータにより自動的に実行されます。オートチューン機能は、NMRの観測主要核をほとんど含む、 1H、19Fおよび 31P∼ 15Nまでの広い周波数範囲の核種に適応できます。 オートチューンプローブで自動測定可能 4 ● ANALYTICAL NEWS r R測定室からの解放 置 JNM-ECX-400P 居室 ALICE2 Network 測定終了までお待ちください JNM-ECX Spectrometer JNMECX400P SCC SCC ALICE2 ALICE2 ALICE2 Computer Computer Computer Server 測定終了後は、自分の PC にてデータ処理・解析・レ ポート作成までの仕事が全て居室で可能になります。 実績豊かなソフトウェア DELTA ALICE2 ネットワーク利用に最適化された、最も先進的な NMR 分光計コントロール、データ処理プログラムです。 ワンウインドウによる自動測定から、高度な応用測定 までの幅広い要求に柔軟に対応しています。 ALICE2（NetALICE2・ALICE2 for Metabolome）は、ネット ワーク上での効率的なオンラインデータプロセッシングを実現 します。さらに市販のワードプロセッサ・表計算などの汎用ソ フトに加え、NMR 専用の構造解析ソフト（NM-SPEC2）や、 NMRデータベースなどとの高度な連携も実現しています。 グラジエントシミングによる高速・高精度な自動分解能調整 グラジエントシミングは、試料ごとに変化す る磁場のマップを計測してマップの歪みを平 坦に補正するシム値の組み合わせを計算で求 めます。従来の方法では、溶媒の種類や液量 が揃っていないと分解能調整に時間を要した り、分解能が不十分なスペクトルしか得られ ないような問題がありました。グラジエント シミングの標準搭載により、熟練を要するこ となくシム調整は 1 分程度で可能です。さら に多数検体の自動測定においてもスループッ トを低下させることなく高品位なスペクトル が得られます。 シム値をリセットした状態から得られたスペクトル ▼ シム値リセット後40秒のグラジエントシミングで得られたスペクトル 2.7 2.6 2.5 2.4 2.3 2.2 2.1 2.0 1.9 1.8 1.7 1.6 1.5 1.4 1.3 1.2 1.1 1.0 0.9 0.8 0.7 0.6 0.5 ANALYTICAL NEWS 0.4 ● 5 JMS-T100GC“AccuTOF ∼PCB と MS 技術情報 JMS-T1 ヒト血液は食物連鎖や生活環境を通じた曝露により PCBs を含む POPs（残留性有機汚染物質）による汚染を受けています。こ れら POPs は難分解性で生体内に長期に渡り蓄積し、発ガン性や免疫毒性、内分泌撹乱作用等による生体影響が危惧されます。 そのためヒト血液中の POPs をモニタリングする事は、人体蓄積の指標として重要です。これら PCBs を含む POPs の測定 は高分解能二重収束型質量分析装置を用いた SIM モードによる方法が主流ですが、この方法では測定チャンネル数の制限やグ ルーピングの制限等により、多検体の同時多成分定量分析には有効とはいい難く、さらに SCAN モードによる測定でないため、 定性分析が不可能です。 TOF-MS は常時高分解能条件下でマススペクトルを取込むことができます。また、得られたデータの質量精度が高いため簡単 に精密質量が求められ、組成式の決定が可能です。そこで、アナリティカルニュース No. 66の 4∼ 5頁で紹介した PCBs を 定量分析したデータを用い、6 塩素化体の PCB（#153）の精密質量から組成式を求めました。また、試料中には有機塩素系農 薬の p,p' -DDE も含まれることが予想されることから、本化合物の検索を行い、定性と定量の同時分析が可能か検証しました。 試料および方法 試料および方法は、アナリティカルニュース No. 66 の 4 ∼ 5 頁掲載の POPs の迅速分析で用いた方法で行いました。 測定条件 GC条件 GC： カラム： Agilent社製6890N HT8-PCB（30m×0.25mmI.D.） オーブン： 120℃（1min）→120℃min→160℃→6℃/min→280℃（3min） 注入口： 280℃、Splitless 注入量： 2L キャリアガス：He、1.0mL/min（定流量） MS条件 MS： JMS-T100GC“AccuTOF GC” 測定質量範囲：m/z 170−520 スペクトル記録速度：0.20秒（5スペクトル/秒） イオン源： EI+（40eV、600A） 結果 図 1にプール血清の測定結果（TIC）を示します。 TIC では夾雑成分が非常に多く、このままでは PCBs を確認することができません。そこで、6 塩素化体のマスクロマトグラム（理論質量±0.05） の作成を行い、そのクロマトグラムピーク （2.5pg 相当の面積値であった）からマススペクト ルを作成し、6塩素化体の検索を行いました。得 られたマススペクトルに観測された分子イオン ピークの精密質量より組成式を求めた結果、6 塩 素化体の PCB である事が決定できました。表 1 に組成演算の結果を示します。 6 ● ANALYTICAL NEWS 図 1. プール血清の TIC クロマト GC”によるプール血清中POPs の迅速分析 と有機塩素系農薬の定性分析∼ 00GC “AccuTOF GC” 表 1. 6 塩素化体 PCB（# 153）の組成演算の結果 理論値 実測値 357.8442 -0.2 357.8444 357.8439 -0.5 357.8449 0.5 プール血清 1 プール血清 2 プール血清 3 誤差（mmu） 組成式 12 C121H435Cl6 また、プール血清中に含まれる、p,p' -DDE の検索を行いました。p,p' -DDE の分子イオンのマスクロマトグラム（理論質量 ±0.05） よりマススペクトルの作成を行いました（図 2） 。このマススペクトルを用いデータベースによる検索を行い p,p' -DDE である事を 。 推定し、さらに分子イオンピークの精密質量より組成式を求め p,p' -DDE である事を決定しました（表 2） 図 2. 血清中の p,p' -DDE のマススペクトル 表 2. p,p' -DDE の組成演算結果 理論値 実測値 315.9370 -1.0 315.9380 315.9371 -0.9 315.9373 -0.7 プール血清 1 プール血清 2 プール血清 3 誤差（mmu） 組成式 12 C141H835Cl4 まとめ 非常に夾雑成分の多い系、また絶対量 2.5pg のクロマトグラムピークにおいても、精度良く（1mmu 以下）精密質量を得ることがで きました。さらに、PCBs の定量のみならず、同一のデータを用い、PCB や p,p' -DDE の精密質量から組成式を求め同定を行いま した。このように一度の測定で微量物質の定量と定性が同時に行ことのできる TOF-MS による測定は非常に有効です。 【データご提供】 愛媛大学農学部 環境計測学研究室 榎本剛司、松田宗明、河野公栄、脇本忠明 様 ANALYTICAL NEWS ● 7 SEM 高倍率 新製品紹介 高性能コンパク 高性能汎用走査電子顕微鏡をコンパクト設計にし、小さいス ペースに設置できるようにしました。空冷 TMP を採用する ことで冷却水が不要になり、移動が容易になりました。マル チユーザー・マルチタスク環境に対応しており、複数のユー ザーが、常に最適条件で観察できます。現場に移動する SEM としてご使用いただけます。 走査電子顕微鏡（SEM）は、光学顕微鏡、レーザ顕微鏡と比較 して、焦点深度が深い、解像度が高い、という特長がありま す。逆に、光学顕微鏡で見える自然な色を観察することはで きません。この特長を活かして、研究から製造までの幅広い 分野で、走査電子顕微鏡が利用されています。 走査電子顕微鏡の威力を見てください 光学顕微鏡やレーザ顕微鏡と比べてみました JCM-5700 光学顕微鏡 真鍮ねじの破断面 凹凸の激しい複雑な構造を SEM は容易に観察します。 100m レーザ顕微鏡 500m 200m 1mm 100m 500m 200m 1mm 8 ● ANALYTICAL NEWS 高低差の大きい、電子部品を実装した基板を観察してみました。 走査電子顕微鏡の特長が活かされて、全体像の観察と、高い倍 率での細部の観察が用意に行えることがわかります。 観察から高精度計測へ ト走査電子顕微鏡 JCM-5700 観察は簡単で迅速です サンプルの分類を選ぶだけで、起動から 3 分で画像表示 VENT ス タ ー ト を ク リ ッ ク し ま す 。 試 料 交 換 ウ ィ ン ド ウ の を 装 着 し ま す 。 試 料 ス テ ー ジ に サ ン プ ル 従来のSEMでは難しかった条件設定、像出しを簡単にすることに より、3分で画像を表示できるようにしました。試料交換ウィンド ウには、手順が表されます。これに従って、試料を挿入します。 し た 設 定 に な り ま す 。 試 料 室 を 閉 じ ま す 。 走 査 電 子 顕 微 鏡 が 、 試 料 に 適 る 試 料 の 分 類 を 選 択 し ま す 。 ス マ イ ル シ ョ ッ ト で 、 観 察 す 表 示 さ れ ま す 。 排 気 終 了 と 同 時 に 画 像 が 3 分 100m 500m 200m 鮮明なSEM像で高精度計測 極低倍から高い倍率まで、観察画 像から長さ、角度などの計測がで きます。鮮明な画像上で、精度の 高い計測が可能です。保存した画 像を、Smile View（オプション）で 表示し、その画像上で計測するこ ともできます。 1mm プリント板 3D観察・測定（オプション） 走査電子顕微鏡の焦点深度の深さを利用して、立体的な構造 の高さ測定ができます。同じ視野で、傾斜角度を 10 °程度変 えて、2枚の画像を撮り、高さ方向の測定を行います。 100m 500m 200m ねじの側面 三次元鳥瞰図 300.0 1mm 250.0 200.0 150.0 100.0 50.0 0.0 -50.0 200 400 600 距離 ねじの側面と高さプロファイル 800 主な仕様 B-PAC 基本 パッケージ 分解能 倍率 加速電圧 試料ステージ XY軸 Z軸 R軸 T軸 最大試料サイズ 試料厚 帯電除去 排気系 画像メモリ 電源 消費電力 本体サイズ 質量 R-PAC L-PAC A-PAC 奨励 低真空機能付 元素分析機能付 パッケージ パッケージ パッケージ 5.0nm × 8∼300000 0.5 ∼20kV 2軸モータ 2軸モータ 10/20mm 40/80mm 10/20mm 40/80mm 5∼48mm 360 ° −10∼90 ° 32mmφ 150mmφ 32mmφ 150mm φ 43mm 低加速 低加速 低加速・低真空 低加速 TMP/RP 640 × 480、1,280 × 960、2,560 × 1,920mm AC100V、15A、3ピンコンセント 1.5kVA以下 600（W）× 1,000（D）× 1,450mm（H） 約265kg ANALYTICAL NEWS ● 9 SEM NMR 製品紹介 走査電子顕微鏡(SEM)のパーソナルコン DIGI CAPT DIGI CAPTURE と X_ScanImage は走査電子顕微鏡（SEM）画像データをパーソナルコンピュータ（PC）により収集（電子ファ イル化）できる機能を備えることのできるシステムです。また、操作性の向上もはかれます。 SEM 観察では試料を装着し、操作パネル上の各種機能（走査速度、倍率、輝度、フォーカスほか）を利用して、表示画像の調整、 観察、写真撮影を行います。この一連の操作を PC 上で行うことができます。また、フレームメモリへ画像データを保存するこ ともできます。これら操作に追従し、リアルタイムでの観察、調整を PC のモニター上でも実現でき、必要な画像データを全ス キャンモード（TV、SR、SLOW、PHOTO）で収集を可能にしたシステムです。画像データは収集完了後、表示されるテキスト ウインドウでの入力により付属情報として、BMP ファイルとテキストファイルを登録・保存できます。作成された画像データ、 テキストファイルは SMileView、SemAfore_Reporter等で利用することができます。 特長 ◆ PCの利用で一歩進んだトータルシステムの実現 ◆ ランニングコストの大幅なダウン ◆ 高性能・高信頼性な装置、および拡張性に富んだシステムの実現 システム構成図 DIGI CAPTURE システム Image Captureソフトウェア DIGI CAPTUREユニット JSM-5310走査電子顕微鏡 構成仕様 DIGI CAPTUREユニット WindowsXPシステム OS：WindowsXP Pro Pentium (R) 3.6GHｚ／RAM512MB／ HD40GB／CD-RW／17インチ高精細液晶モニタ／Kep Board、Mouse SEM ＆ PCインターフェース＆接続ケーブル Image Capture Software (CD-R) 1台 1式 1式 1式 仕様 走査方法 走査モード 走査スピード 線走査 スポット X線像 画像信号 画像記録 その他機能 適用機種 SEM外部スキャン取り込み方式 ピクチャー、波形モニタ（1） 、波形モニタ（2） 、スポット クイックスキャン（0.2秒／250本） 、モニタ（3秒／500本） 観察1（10秒／640×480） 、観察2（20秒／1280×960） 、観察3（80秒／2560×1920） LIN1：信号強度ラインプロファイル表示、LIN2：走査像に重複してラインプロファイル表示 走査像に重複して測定点カーソル表示、X線測定点表示 X線像の取り込み（10秒／フレーム・加算可能） 1チャンネル 表示諧調 12ビット 観察1、観察2、観察3、LIN2、SPOT、X線像 …SEM倍率コード読み取りディスプレイ画像に表示 簡易測長、簡易角度測定、輝度変換機能、デジタルズーム JSM-5200、5300、5310、5400、5410、T220A、T330A ＊ 外観・仕様は改良などのため予告なく変更することがあります。 10 ● ANALYTICAL NEWS ピュータによるデジタル化、高精細液晶画面で！ URE ＆ X＿ScanImage 操作ウインドウ X_ScanImageシステム X_ScanImageソフトウェア USB接続 X_ScanImageユニット JSM-6400走査電子顕微鏡 構成仕様 X_ScanImage ユニット Windows XPシステム OS：WindowsXP Pentium 4 3GHz、 RAM512MB、HD100GB以上を推奨します。 USB仕様２.00 SEM接続、USBケーブル X_ScanImage Software Alpha or Sigma (CD-R) 1台 Option 1式 1式 仕様 走査方法 走査モード 走査スピード 線走査 スポット X線像 画像信号 画像記録 その他機能 適用機種 SEM内部スキャン取り込み方式 Alpha仕様：TV、SR、SLOW1、SLOW2、SLOW3、PHOTO1∼PHOTO5 Sigma仕様：TV、SR、SLOW1、SLOW2 ＆PHOTO（H･Vスイッチの8モード） SEM本体の各モードでのスキャンスピードに準ずる。 （自動認識） Alpha仕様（∼2560×1840） 、Sigma仕様（∼3200×2400） ラインプロファイル表示（LSP、WFM相当） Option Option 1チャンネル 表示諧調 8ビット 全スキャン画像データの収集 …画像上のミクロンバー、他付属情報等は本体操作で制御できます サムネイル表示、スプリット表示、印刷機能（A4紙） 、輝度変換機能、デジタルズーム JSM-6xxxシリーズ（PC-SEM除く） 、JXA-8800／8900シリーズ、JSM-8xxシリーズ お問い合わせ先 日本電子データム （株） 国際技術研修センター TEL042-542-1306 FAX042-542-4059 ANALYTICAL NEWS ● 11 INFORMATION ■ 場所：日本電子 （株） 本社・昭島製作所 日本電子データム （株） ■ 時間：9:30∼ 17:00 ● 電子光学機器 装置 ● 分析機器 コース名 基 本 コ ー ス Ｔ Ｅ Ｍ 応 用 コ ー ス 期間 主な内容 5月 6月 7月 8月 (1)TEM共通コース 1日 TEMの基礎知識 (2)2010TEM標準コース 3日 2010の基本操作 (3)1230TEM標準コース 3日 1230の基本操作 (4)1010TEM標準コース 3日 1010の基本操作 (5)走査像観察装置標準コース 1日 ASIDの基本操作 (6)電子回折標準コース 1日 電子回折の基本操作 (1)分析電子顕微鏡コース 2日 分析電子顕微鏡の測定法 (2)TEM一般試料作製コース 1日 各種支持膜・粉体試料の作製技法 (3)生物試料固定包埋コース 1日 生物試料の固定包埋法と実習 17 23 (4)ウルトラミクロトームコース 2日 ミクロトームの切削技法と実習 18∼19 24∼25 (5)クライオミクロトームコース 2日 クライオミクロトームの切削技法と実習 装置 18 19∼21 Ｎ Ｍ応 Ｒ用 コ ー ス (6)急速凍結割断レプリカ作製コース 2日 各種試料の凍結割断レプリカ膜の作製法 (7)イオンミリング試料作製コース 2日 イオンミリング法による超薄試料作製法 (8)生物試料撮影写真処理コース 2日 生物試料の写真撮影法と写真処理 Ｍ Ｓ (9)非生物試料撮影写真処理コース 2日 非生物試料の写真撮影法と写真処理 (1)5000シリーズSEM標準コース 3日 5000シリーズSEM基本操作 基 本 コ ー Ｓス Ｅ Ｍ Ｅ Ｐ Ｍ Ａ (2)SEM標準コース (4)LV-SEM標準コース 17∼19 13∼15 12∼14 10∼12 1日 LV-SEM基本操作 7∼9 5∼7 16 期間 主な内容 (4)差NOE & NOESY 1日 NOE測定 知識の整理と確認 (5)HOHAHA測定 1日 HOHAHA測定 知識の整理と確認 (6)ROESY測定 1日 ROESY測定 知識の整理と確認 (7)緩和時間測定 1日 緩和時間測定と注意点 (8)多核NMR測定 2日 測定とデータのまとめ (10)DOSY (Delta) 1日 DOSY測定と注意点 ((1)MStation基礎コース 3日 MSの基礎解説と低分解能測定 (5)K9 コース 2日 MSの基礎解説と定性・定量測定 (6)精密質量測定 1日 EI/FABの精密質量測定 9∼11 20∼21 18∼19 22∼23 ESR 25∼26 22∼23 20∼21 24∼25 エレメント JSX-3000/3202EV 1日 蛍光Ｘ線分析装置基本操作 アナライザ 基 (1)定性分析標準コース 本 コ (2)定量分析標準コース ー ス (3)カラーマップ標準コース 4日 8000シリーズEPMA 基本操作 応 (1)EPMA試料作製コース 用 コ ー ス 2日 EPMA試料作製技法と実習 22∼23 16∼19 8月 22∼23 24∼25 11∼14 25 30 25∼26 26∼27 31 19∼21 15∼16 18∼19 13∼14 23 (9)K9 水分析 （H. S.) 2日 H.S.法によるVOC分析 18 23∼24 1日 SEM一般試料作製技法と実習 7月 応 1日 化学イオン化法による測定 用 (7)K9 CIコース コ ー (8)K9 水分析（P&T) 2日 P&T法によるVOC分析 ス (6)EDS分析標準コース (1)SEM一般試料作製コース 応 用 (2)SEM生物試料作製コース コ ー (3)SEM・EPMAミクロトーム 試料作製コース ス (4)CP試料作成コース 6月 20∼21 (9)固体NMR (Delta) 2日 固体NMR測定基本操作 (5)CP試料作成コース 2日 CP試料作成法と実習 2日 JED-2100EDS基本操作 5月 基 (2)ダイオキシン基本コース 3日 MSの基礎的な測定とSIM測定 本 3日 DIOK（V2）の使用法 コ (3)新DIOK処理 ー (4)Automassコース 2日 MSの基礎解説と定性・定量測定 ス 15∼17 3日 SEM基本操作 (3)FE-SEM標準コース 3日 FE-SEM基本操作 コース名 基 (1)ALシリーズ（1）・共通コース 2日 NMR装置の基礎知識 本 13 Cの基本操作 コ (2)ALシリーズ（2） 2日 1D/2Dの 1H、 ー 1 13 (3)ECA/ECXシリーズ 4日 1D/2Dの H、 Cの基本操作 ス JES-FAシリーズ 2日 基本操作と応用測定 「ALシリーズ（1） ・共通コース」は、ALシリーズとECAシリーズNMR装置を中心にした共通コースです。 「ECA/ECXシリーズ」はECPシリーズを含む Delta 操作講習です。 「固体NMR」と「DOSY」は、ECA/ECXシリーズ対象です。 2日 SEM生物試料作製技法と実習 2日 ミクロトーム切削技法と実習 2日 CPによる断面試料作製技法と実習＊ 9∼12 6∼9 11∼14 2日 8000シリーズ 定量分析基本操作 12∼13 18∼19 2日 8000シリーズ広域マップ基本操作 14∼15 20∼21 22∼25 ● 電子光学機器・分析機器のお問い合わせ・お申し込みは 日本電子データム（株）講習受付 荻野まで TEL 042 − 544 − 8565 FAX 042 − 544 − 8461 ＊全く新しい断面試料作製法で従来までのFIB法、機械研磨法よりも精度の高い断面が簡単に得られます。 ご意見・ご質問・お問い合わせ MGMT. SYS. MGMT. SYS. R v A C 024 R vA C 425 日本電子 （株）営業統括本部 営業企画室 ISO 9001 & 14001 REGISTERED FIRM DNV Certification B.V., THE NETHERLANDS e-mail: sales@jeol.co.jp FAX. 042-528-3385 日本電子グループは品質と環境に配慮した製品をお届けいたます。 このパンフレットは、古紙100％再生紙（白色度70％）を使用しています。 このパンフレットは、大豆油インキを使用しています。 本社・昭島製作所 〒196-8558 東京都昭島市武蔵野3ー 1ー 2 ANALYTICAL NEWS 2006 年 4 月発行 No.067 編 集 発 行／日本電子データム （株） ホームページアドレス 日本電子データム（株）http://www.datum.jeol.co.jp 日本電子（株）http://www.jeol.co.jp 営業統括本部：〒 190-0012 東京都立川市曙町2-8-3・新鈴春ビル3F (042)528 − 3381 FAX(042)528 − 3385 支店：東京(042)528−3261・札幌(011)726−9680・仙台(022)222−3324・筑波(029)856−3220・横浜(045)474−2181 名古屋(052)581−1406・大阪(06)6304−3941・関西応用研究センター(06)6305−0121・広島(082)221−2500 高松(087)821−8487・福岡(092)411−2381 本 社 〒196-0022 東京都昭島市中神町1156 (042)542 ー 1111 FAX(042)546 ー 3352 センター：東京(042)526−5020・札幌(011)736−0604・仙台(022)265−5071・筑波(029)856−2000・横浜(045)474−2191 名古屋(052)586−0591・大阪(06)6304−3951・広島(082)221−2510・高松(087)821−0053・福岡(092)441−5829 No. 0201D611D (Kp)
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