第三回 Atrenta Technology Forum 開催のご案内

第三回 Atrenta Technology Forum 開催のご案内
SpyGlass ユーザの皆様、
本年度も Atrenta Technology Forum を開催させていただく事になりました。弊社製品を設計にご活用いた
だいているユーザー様の生の声をお聞きいただける機会です。是非ご参加いただき、設計品質の更なる
向上へとお役立てください。
9/12(金)
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日付
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時間 13:00～17:00（12:30 開場）
場所新横浜国際ホテルマナーハウス南館 (アクセス情報)
プログラム
Semiconductor Trends in 2014
13:00〜13:15
General Manager, Asia, Atrenta Inc, / President, Atrenta KK
Bill Baker
Bill will discuss trends in Semiconductor and Semiconductor Design In particular, he will cover sales trends,
emerging applications, and new design trends.
Spyglass Advanced CDC の動的ジッタ解析による設計品質の向上
京セラドキュメントソリューションズ株式会社
ソフト開発本部ソフトウェア 3 統括技術部第 31 技術部
堤匡史様
13:15〜13:45
Spyglass Advanced CDC は Formal エンジンを搭載しており、自動的に CDC 回路の機能を検証します。しかし、回
路構成や規模に依存して検証が完了しない場合や疑似エラーが発生して最後まで検証されない場合がありま
す。そこで、機能検証を補完するために Advanced CDC の動的ジッタ解析機能により生成したモデル（CDC 回路
にメタステーブルを発生させる）を用いて、動的検証で実ユースケースに従ったパターンを使用して CDC 回路を
検証した事例を紹介します。
Hand-Off SDC はこう作る！
富士通九州ネットワークテクノロジーズ株式会社
第六開発統括部第二開発部
山川徳敏様
13:45〜14:15
階層設計手法では、RTL/SDC も階層設計単位で作成する必要があります。折角苦労して作成した Hand-Off デ
ータ(RTL/SDC)も、半導体ベンダーからのフィードバックにより、階層設計単位の構成を大きく変更せざるを得な
いと言った事が多々あります。この時、RTL 変更前後の等価性は FV で検証可能ですが、SDC の等価性はレビ
ューに頼るしかなく、数万行にも及ぶレビューで途方に暮れた事はありませんか？今回は、このような課題の
解決方法について開発事例を交えてご紹介します。
SpyGlass FPGA-Kit のご紹介
アトレンタ株式会社
シニアフィールドアプリケーションエンジニア扇谷信孝
14:15〜14:35
近年、ASIC 設計だけでなく FPGA 設計現場においても CDC の検証がますます重要になってきています。なぜ
FPGA 設計でも CDC の検証が重要になってきているのでしょうか？本発表では、FPGA 設計現場のお客様の声
を集めることで判明したその理由を解説し、SpyGlass Advanced CDC と FPGA-Kit による FPGA 設計のデバッグ手
順について、説明とデモを行います。
アトレンタアップデート
14:35〜15:05
アトレンタ株式会社
ディレクター, テクニカルフィールドオペレーション谷川寛
アトレンタ社製品の最新情報について紹介させていただきます。
15:05〜15:40
（ブレーク）
SpyGlass Platform による設計品質を考慮した消費電力削減の取組み
15:40〜16:10
パナソニックデバイスシステムテクノ株式会社
デバイスソリューション開発グループ EDA・設計環境開発チーム
青木将訓様
近年、低消費電力化の需要が高まり、LSI におけるロジックの電力削減は必須となっています。そのため、RTL
設計段階でさらなる電力削減の必要性が高まってきていますが、電力削減を追求するあまり、設計品質を劣化
させるような事態は避けなければなりません。そこで今回、SpyGlass Platform による設計品質を考慮した消費電
力削減環境を立ち上げましたので、本発表ではその取組みを紹介します。
SpyGlass Tcl Shell Interface のご紹介
16:10〜16:30
アトレンタ株式会社
シニアフィールドアプリケーションエンジニア長谷哲生
EDA ツールのインタフェースとして一般的に採用される Tcl が、SpyGlass でも使用できるようになりました。
SpyGlass でサポートされている Tcl コマンドの種類や用途、使用方法についてご紹介します。
マイコン製品設計における SpyGlass Platform 導入について
16:30〜17:00
スパンション・イノベイツ株式会社
技術本部マイコン設計センター設計技術開発部
谷嶋幹子様
近年、設計期間短縮のため RTL 設計強化が必須となってきています。更に品質向上、コスト削減と様々な課題
も同時にクリアする必要があります。今回、40nm 設計データチェック環境の早期構築と検証強化を目的として
SpyGlass Platform を導入しました。本発表では、導入の背景と Tcl を用いた設計環境構築例をご紹介します。
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