シールド機構付きシルバーゲートエボリューション

嫌気性試料、Li-イオン2次電池材料評価に ...
ATR結晶プレートの交換でアライメント不要 ...
シールド機構付きシルバーゲート
ATR エボリューション
スループットの高い一回反射ATR Silver GateTM Evolutionは
固体、液体試料やゲル状、ペースト状試料等の赤外測定を素早
く行えます。
シールド機構によりLi-イオン2次電池材料、嫌気性試料のサン
プリングを容易にしました。屈折率の高い試料(ゴム等)の測定
ではGeクリスタルを用いますが、結晶プレートの交換はスピー
ディに行うことができ、面倒な光学調整も不要です。
z シールド機構で嫌気性試料のサ
ンプリングを容易にしました
z 固体、液体試料やゲル状、ペー
スト状試料等前処理無しでスピ
ーディな測定が可能
z ハイ・スループット(最大値55%
以上)の光学系は試料測定効率
を高めます
z トルクリミッター内蔵の試料クラ
ンプは再現性の高い測定ができ
ます
z フラットな結晶表面は試料の密
着性を高めます
ATR測定では密着性がポイント
です
z 液体試料測定用トラフプレート
と一般用フラットプレートがあり
ます
シルバーゲート エボリューション 一回反射ATRはハイ・スルー
プットなFTIR用測定アクセサリです。
固体試料、液体やペースト状試料など殆ど前処理なしで、簡単
に測定出来ます。
シルバーゲート エボリューション は結晶プレートの交換を非常
に簡単、スピーディに行うことができます。
屈折率の高い試料測定、試料表面からできるだけ浅い所での
測定などGeプリズムが有効です。
ZnSe結晶プレートからGe結晶プレートへの交換でも面倒なア
ライメントは不要です。
ゴールデンゲートダイヤモンドATRから引き継がれているトル
クリミッター内蔵のブリッジ型クランプは優れた再現性の高い測
定を可能にしています
株式会社
システムズエンジニアリング
Silver Gate Evolution ®
TM
1.4
ポリイミドフィルム(Geクリスタル)
0.25
ポリイミドフィルム(ZnSeクリスタル)
1.2
0.20
Absorbance
Absorbance
1.0
0.15
0.10
0.8
0.6
0.4
0.05
0.2
0.00
0.0
4000
0.18
3000
2000
1500
Wavenumbers (cm-1)
1000
500
4000
0.6
ニトリルゴム(Geクリスタル)
3000
2000
1500
Wavenumbers (cm-1)
1000
500
1000
500
ウレタンフォーム(ZnSeクリスタル)
0.16
0.5
0.14
Absorbance
Absorbance
0.12
0.10
0.08
0.4
0.3
0.2
0.06
0.04
0.1
0.02
0.0
4000
3000
2000
1500
Wavenumbers (cm-1)
1000
500
4000
Silver Gate Optics Unit
P/N GS10681 Silver Gate Evolution 光学系ユニット
(パージベローズ、揮発性試料用ボラタイルカバー付)
3000
2000
1500
Wavenumbers (cm-1)
Silver Gate Evolution Crystal Plates
P/N GS10683-1 ZnSe フラットプレート
P/N GS10683-2 Ge フラットプレート
P/N GS10684-1 ZnSe トラフプレート
Silver Gate Evolution Top Plates
P/N GS10684-2 Ge トラフプレート
P/N GS10682-1 トッププレート(試料押さえクランプ無し)
P/N GS10682-2 トッププレート(試料押さえクランプ付)
P/N GS10682-3 シールド機構付きトッププレート
(試料押さえクランプ付)
( GS10682-2,3 はペレットアンビル、フラットアンビル付)
Silver Gate Evolution Replacement parts
P/N GS10503
P/N GS10532
P/N GS10567
P/N GS10707
ボラタイルカバー
ペレットアンビル
フラットアンビル
パージベローズ
デザイン、仕様は予告無しに変更されることがあります
株式会社
システムズエンジニアリング
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