208

ライセンス技術情報 No.0208（特願 2008－135875）
連絡先 : TLO ひょうご（tlo@niro.or.jp 078-306-6805)
TECHNOLOGY LICENSING ORGANIZATION HYOGO
＜技術分野＞測定器具
＜技術名＞磁化率精密測定方法
及び超伝導量子干渉計用の測定セル
兵庫県立大学大学院・物質理学研究科
小林本忠准教授
技術概要
本発明は大気中不安定な物質の磁化率を酸化・分解させることなく、かつ装置
の汚染もなく極低温までの測定を可能とするための石英ガラス製の測定用セルに
関する。
(1) 資料＋セルの磁化率を測定し、信号 a を得る。
(2) セルを反転してセルの磁化率(ブランク)を測定し、信号 b を得る。
(3) 信号 a －信号 b により試料のみの磁化率の寄与である信号 c を得る。
従来技術の課題
従来は試料をストローやゼラチンカプセルなどに封入して測定していた。
しかしながら完全に酸素を遮断することは不可能であり、試料が微粉末状で
ある場合には装置内で飛散してしまう危険性を有するものであった。
発明の効果
試料を石英ガラス製セルに焼き封じるために試料が酸化・分解したり、測定中
に装置内に飛散することもない。
また温度交換用不活性ガスと共に焼き封じることによって、極低温域までの測
定が可能となる。
応用例
（用途・応用展開の可能性）
超伝導量子干渉計(SQUID) 用の測定セル。

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